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ICT设备回收在线测试的基本原理以及基本知识
编辑:深圳市木士电子有限公司   时间:2022-11-02

1.1界定

测验,ICT,In-CircuitTest,是由对线上电子器件的电气性能及电气连接接地进行测试来检测生产加工缺点及电子器件不良一种规范检测方式。它关键查验一直在线单独电子器件和各电源电路互联网的开、短路故障状况,具备使用方便、便捷快速、故障定位精确等优点。

镭射激光ICT基本上只开展静态数据的检测,特点是无需要制做工装夹具,软件开发时间较短。

针床式ICT可以进行模拟器件性能和数据元器件逻辑性系统测试,系统故障普及率高,而对每一种单面板需制做专用针床工装夹具,工装夹具制作和软件开发时间长。

1.2ICT的范畴及特性

查验做成板里线上电子器件的电性能和电源电路互联网的联接状况。可以定量分析地向电阻器、电容器、电感器、晶振电路等元器件进行检测,对二极管、三极管、光藕、变电器、电磁阀、运放电路、电源芯片等方面进行系统测试,对心较小规模的集成电路芯片开展系统测试,如全部74系列产品、Memory类、常见推动类、互换等IC。

主要是通过直接向线上元器件电性能的检测来发觉加工工艺的不足和电子器件的不当。元器件类可检查出来元器件系数的偏差、无效损坏或,Memory类程序错误等。对加工工艺类可以发现如焊锡丝短路故障,元器件插反、插反、少装,引脚翘起来、空焊,PCB短路故障、断开等常见故障。

测试常见故障立即精准定位在具体元器件、元器件引脚、互联网点上,故障定位精确。对故障检修无需要比较多专业技能。选用系统控制的功能测试,使用方便,检测便捷快速,单面板的检测时间一般在几秒钟至几十秒。

1.3实际意义

ICT测验一般是生产过程中第一道检测工艺流程,能及时反应生产加工情况,有利于工艺改进和提高。ICT检测完的常见故障板,因故障定位准,检修便捷,可大幅度提高工作效率减少修理成本费。以其测试报告实际,是智能化生产质量保证的主要检测方法之一。

ICT检测基础理论做一些简要介绍

1基本上测试标准

1.1模拟器件检测

运用运放电路进行测试。由“A”点“虚地”这个概念有:

∵Ix=Iref

∴Rx=Vs/V0*Rref

Vs、Rref分别是鼓励视频信号、仪器设备测算电阻器。精确测量出V0,则Rx可算出。

若待测Rx为电容器、电感器,则Vs沟通交流视频信号,Rx为特性阻抗方式,一样可算出C或L。

1.2防护(Guarding)

上边的测试标准就是针对单独的元器件,而实际电路上元器件相互连接、互相影响,使Ix笽ref,检测时要进行防护(Guarding)。防护是测验的基础技术。

在下电路板上,因R1、R2连接分离,使Ix笽ref,Rx=Vs/V0*Rref式子站不住脚。检测时,只需使G与F点同电位差,R2中无电流量穿过,依旧有Ix=Iref,Rx的式子不会改变。将G点接地装置,因F点虚地,二点电位差相同,则可以完成防护。具体好用时,通过一个防护运放电路使G与F等电位连接。ICT测试仪可以提供好多个隔离点,清除外围电路对测试危害。

1.2IC的测对数字IC,选用Vector(空间向量)检测。空间向量检测类似真值表精确测量,鼓励键入空间向量,精确测量导出空间向量,根据具体逻辑性系统测试分辨元器件的好与坏。

如:与非门的检测

对仿真模拟IC的检测,可以根据IC具体作用激励电压、电流量,精确测量相匹配导出,作为应用检测。

2非空间向量检测

伴随着先进制造技术的高速发展,集成电路工艺集成电路芯片的应用,撰写元器件空间向量测试代码经常耗费大量时间,如80386的测试代码需耗费一位娴熟软件程序员近半年的时间。SMT元器件很多运用,使元器件管脚引路的故障问题变得越来越突显。因此各企业非空间向量检测技术,Teradyne推出MultiScan;GenRad上线的Xpress非空间向量检测技术。

2.1DeltaScan仿真模拟结检测技术

DeltaScan运用基本上所有数字元器件引脚和绝大部分混合信号元器件管脚都会有的静电放电维护或生存二极管,对被测器件独立的管脚对进行相应的直流电流检测。当某档板的开关电源被截断后,元器件上一切2个引脚的闭合电路如下图所示中所显示。

1在引脚A加一对地负电压,电流量Ia流过引脚A之正方向阈值电压二极管。精确测量穿过引脚A的电流量Ia。

2维持引脚A的工作电压,在引脚B加一比较高负电压,电流量Ib穿过引脚B之正方向阈值电压二极管。因为从引脚A和引脚B至接地装置之一同硅片电阻器里的电流量共享,电流量Ia也会减少。

3再度精确测量穿过引脚A的电流量Ia。假如当电流被加进引脚B时Ia没有所变化(delta),则一定存有联接难题。

DeltaScan手机软件综合性从本元器件上很多可能性的引脚对所得到的检测结果,进而得到精准的故障检测。数据信号引脚、开关电源和接地装置引脚、硅片都参加DeltaScan检测,这也就意味着除引脚松掉以外,DeltaScan还可以检测到元器件缺少、插反、焊线松掉等生产制造常见故障。

GenRad类式检测称JunctionXpress。其一样运用IC里的二极管特点,仅仅检测是由精确测量二极管的频谱特性(二次谐波)来完成的。

DeltaScan技术性无需要额外夹具硬件配置,变成首先推荐技术性。

2.2FrameScan电容耦合检测

FrameScan运用电容器耦合探测管脚的松掉。每一个元器件上面还有一个电阻性摄像头,在某一个引脚激励信号,电容器性摄像头捡取数据信号。

1工装夹具里的多通道转换开关挑选某一元器件里的电容器性摄像头。

2测试仪里的模拟考试板(ATB)先后向每一个待测引脚传出交流信号。

3电容器性摄像头收集并缓存被测管脚上交流信号。

4ATB测量电容性摄像头捡取的交流信号。假如某一引脚与线路板连接正确,便会测出数据信号;若该引脚松掉,则也不会有数据信号。

GenRad类式的专业技术称OpenXpress。基本原理类似。

此技术性工装夹具必须感应器和其它硬件配置,检测成本费高一点。

3Boundary-Scan界限扫描技术

ICT测试仪规定每一个电源电路连接点至少有一个测试用例。但是随着元器件处理速度提高,作用越来越强大,封装形式愈来愈小,SMT器件的增加,实木多层板的应用,PCB板元器件密度扩大,要在每一个连接点放一根探头越来越非常困难,为提升测试用例,使产品成本提高;并为开发设计一个功能齐全元器件测试库越来越艰难,开发进度增加。因此,协同检测机构(JTAG)出台了IEEE1149.1检测标准。

IEEE1149.1界定了一个扫描仪元器件好多个重要特性。最先理解了构成检测浏览端口号(TAP)的四(五〕个引脚:TDI、TDO、TCK、TMS,(TRST)。测试方式挑选(TMS)用于载入控制信息;次之界定了由TAP控制板适用的几种不一样测试模式,主要包括外检测(EXTEST)、内检测(INTEST)、运作检测(RUNTEST);最终给出了界限扫描仪语言表达(BoundaryScanDescriptionLanguage),BSDL文字表达扫描仪元器件关键信息,它界定引脚为键入、导出和双重种类,界定了TAP的方式和指令系统。

具备界限扫描仪的元器件每一个管脚都与一个串行通信移位寄存器(SSR)的模块相连,称之为扫描仪模块,扫描仪模块连在一起构成一个移位寄存器链,用于操纵检测和元器件管脚。其特殊的四个引脚用于进行测试任务。

将好几个扫描仪元器件扫描仪链根据他的TAP连在一起就会形成一个连续不断的界限存储器链,在链头加TAP数据信号就能操纵检测和全部与链相接元器件引脚。这种虚似触碰取代了针床工装夹具对元器件每一个引脚物理的触碰,虚似浏览

 


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